雷射加工|雷射解決方案|雷射雕刻|雷射鑽孔|雷射切割 :: 首頁 :: 產品介紹 :: LIGHT CONVERSION :: HARPIA

LIGHT CONVERSION >> HARPIA

特點

*直接搭載HARPIA-TA 最為加裝模塊使用
*完成空間分辨光譜和泵浦-探測光譜的測量
*低於5 µm 的空間分辨率
*寬帶寬探測光和單色探測光可選
*樣品平台XYZ 軸三維電機控制
*樣品室適應不同種類和尺寸的樣品
*透射模式和反射模式可選

特點
*為泵浦探針測量提供額外的時間維度
*提供對複雜光動力學系統的更多了解
*完全控制第三光束：
–偏振（使用手動或自動Berek偏振補償器）
–強度（使用手動或自動連續可變中性密度濾光片）
–延遲（使用自動2 ns或4 ns光學延遲線）
*Z掃描支持

特點
*簡單的操作
*上轉換晶體和棱鏡的自動光譜掃描和校準
*在熒光上轉換和TCSPC模式之間輕鬆切換
*在飛秒至微秒範圍內測量熒光動力學
*完全控制偏振，強度，延遲和波長

特點
*350 – 1100 nm探針波長范圍
*足夠的樣品空間以適合低溫恆溫器或液體樣品泵
*光束監控和自校準
*簡單集成任何用戶首選的外部光譜儀
*在同一設備上進行瞬態吸收和Z掃描實驗

特點
*飛秒多脈衝瞬態吸收/反射測量
*飛秒熒光上轉換
*時間分辨飛秒受激拉曼散射實驗(FSRS)
*百皮秒至微秒時間相關單光子計數(TCSPC)

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